第246章 良率的惊喜（2 / 2）

CP测试，是芯片从晶圆厂出来后的第一道“体检”。它将直接告诉工程师们：这批“新生儿”，有多少是健康的？有多少是先天不足的？甚至……有没有可能是“死胎”？

虽然启明芯强大的EDA平台和严谨的验证流程，已经最大限度地排除了设计层面的错误。但先进工艺制造本身就充满了不确定性。65纳米，在2006年，依然是极其尖端、极其“娇贵”的工艺节点，哪怕是最顶级的代工厂如台积电，也无法保证100%的良率。任何微小的工艺偏差、设备故障、甚至是一粒肉眼看不见的尘埃污染，都可能导致整片晶圆报废！

更何况，“天枢一号”的复杂度达到了启明芯历史之最！数亿级别的晶体管！高性能CPU、GPU、基带、多媒体引擎……如此多的功能模块被高密度地集成在一起，对于65纳米工艺来说，本身就是一次极限挑战！

可以说，“天枢一号”的首批CP测试结果，不仅关系到数千万美金的投入是否打了水漂，更直接关系到“北辰”计划能否按时推进，关系到启明芯即将进行的IPO能否获得一个理想的估值！其重要性，无以复加！

洁净室内，身穿白色无尘服、只露出两只眼睛的测试工程师们，正在紧张而有序地操作着。

“晶圆放置完毕，对位精准。” “探针卡下降，接触良好。” “加载CP测试程序…… ‘天枢一号’ES版 V1.0 Test Pattern……” “初始化ATE设备……”

每一个步骤都通过内部通讯系统清晰地传递出来。

洁净室外，陈家俊、顾维钧等人甚至能听到自己剧烈的心跳声。黄耀龙紧张地搓着手，嘴里念念有词，似乎在祈祷着什么。小张和李志远也紧盯着内部监控屏幕上传回的ATE设备操作界面。

时间，仿佛在这一刻被无限拉长。

终于，ATE设备的操作界面上，代表测试状态的指示灯，从红色的准备中，变成了黄色的运行中。

测试，正式开始！

首先进行的是最基础的开短路测试，检查芯片的电源网络和所有IO管脚是否存在物理性的短路或断路。这是最低级的、但也是最致命的制造缺陷。